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＜論文＞半導体テルル・セレン化ビスマスの螢光X線分析法によるセミ・ファンダメンタル・パラメータ法の解析
https://keiho.repo.nii.ac.jp/records/2175
https://keiho.repo.nii.ac.jp/records/21759c65e17b-1a1e-4b00-b8f2-c4dc84bb0788
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
daigakuronshu_34_02 (954.5 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2022-12-19 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | ＜論文＞半導体テルル・セレン化ビスマスの螢光X線分析法によるセミ・ファンダメンタル・パラメータ法の解析 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Analyst of Compound Semiconductors Bi2 (Te1-ySey)3 System by Means of Semifundamental Parameter Method in the X-Ray Fluorescent Spectrometry | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| その他（別言語等）のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | ハンドウタイ テルルセレン カ ビスマス ノ ケイコウ Xセン ブンセキホウ 二 ヨル セミ ファンダメンタル パラメータ ホウ ノ カイセキ | |||||
| 著者 |
沢, 勲
× 沢, 勲× Sawa, Isao |
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| 書誌情報 |
大阪経済法科大学論集 en : The Review of Osaka University of Economics and Law 号 34, p. 23-48, 発行日 1988-11-25 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 大阪経済法科大学経法学会 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 0287-9468 | |||||
